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ST5030-MAP
·用最小尺寸的斑点来测量亚微细
粒的样品
·同时可以使用多个斑点
·四种掩饰过程的半音测量法 |
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SPR
·丰富的标签技术
·实时监控
·批量芯片高速放映
·强大的影像处理 S/W |
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| 联系方式 |
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电话： +86-512-57900-888
传真： +86-512-57900-688
E-mail： sales@cn.kmac.to |
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电话： +86-10-6479-6853
传真： +86-10-6479-6853
E-mail：lmpark@cn.kmac.to
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电话： +86-755-2923-7650
传真： +86-755-2923-7650
E-mail：yhshin@cn.kmac.to
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电话： +886-2-8791-9296
传真： +886-2-8791-9297
E-mail：sales.tw@kmac.to
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生产中心
电话： +82-42-9303-900
传真： +82-42-9303-979
E-mail： sales.kr@kmac.to |
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研发中心
电话： +82-42-8686-888
传真： +82-42-8686-867 |
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说明手册 |
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（共4册）, *.PDF |
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